全面助力万物互连时代的IC设计应用

——R&S公司将参展中国国际半导体博览会暨高峰论坛 IC China 2016 

http://www.rohde-schwarz.com.cn/news.php?id=817 

中国国际半导体博览会暨高峰论坛 IC China)将于2016118-10日在上海新国际博览中心盛大举行,经过11年的发展,已成为国内外具有一定影响力的半导体业界盛会。“IC China”为从事集成电路设计、芯片加工、封装测试、半导体专用设备、半导体专用材料、半导体分立器件的海内外厂商,企事业单位搭建了一个展示较新成果,打造产品品牌的平台。而且聚焦产业政策解读,涵盖“体制创新、模式创新、技术创新”等内容的高峰论坛和专题研讨会,在业界有着极佳的口碑和知名度。

IC China 2016将以“应用引领、共同发展”为主题,力邀国内外优秀半导体企业参展、参会;精心组织物联传感、智慧城市、汽车电子、医疗电子、移动终端等新兴产业成果展示,共同推进系统应用-半导体-专用设备、材料全产业链的发展。

罗德与施瓦茨公司(Rohde & SchwarzR&S)作为全球较大的电子和无线移动通信测试设备厂商之一,将首次在IC China上展示其领先的针对IoT 和通用IC设计与测试的产品和解决方案,包括IoT芯片测试技术,射频微波芯片测试技术,收发机芯片测试技术,收发机芯片产线测试方案,先进相位噪声测试技术,调制解调器测试技术,先进时域测试技术等方案。同时,针对频域、时域和信号域的测试,R&S公司带来了7款产品用于现场的演示和交流:

CMW270         无线通信测试仪

ZNB20          矢量网络分析仪

SMW200A        矢量信号发生器

FSVA40         信号与频谱分析仪

FSWP           相位噪声分析仪

RTO2044        数字示波器

SMBV           矢量信号发生器

通过参观和交流,来宾将体验到R&S公司的一流产品、服务以及先进理念,领略R&S公司打造的全方位的IC测试方案平台,特别包含可以加速IC 设计的独有方案,期待与您分享,敬请您的光临。

诚邀您光临R&S公司展台:上海新国际博览中心W5 5A004-5A005 



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